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奥林巴斯3D 测量激光显微镜广泛应用于不同行业的质量控制、研究和开发过程，它在激光显微领域树立了全新的标准。现在，为满足测量精度不断提高和测量范围日益扩大的需求，奥林巴斯推出了新型产品LEXT OLS4000。该产品不但可以让测量更加快速、简单，而且可以拍摄到更高画质的影像，大大突破了激光显微镜的界限。
OLS4000采用了5项激光技术，短波长激光光源、共焦光学系统、XY扫描、获取色彩逼真影像及Z轴扫描，读光栅尺，最大极限的利用了“光”的的力量
LSM 采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统，会删除未聚焦区域的信号，只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力，可以生成高画质的影像，实现精确的3D测量。
■应用
LEXT OLS4000可用来测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D 表面形貌、
2D 的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。
精密部件：检测对表面磨损，表面粗糙度，表面微结构有要求的零部件；
生命科学
电子元件：光掩膜，微透镜，柔性电路板接触点，MEMS等
半导体：晶圆凸起，导光板，芯片焊点，导光板激光点等
原材料/金属加工：电镀金刚石工具，碳精棒，极细管，胶带等
纸张：纸张、钱币表面三维形貌测量
LED行业
■技术参数
光源：405nm半导体激光 白色LED
检出系统：光电倍增管
变焦：光学变焦：1～8X，数码变焦：1～8X
分辨率：移动分辨率10nm，显示分辨率1nm
物镜转换器：6孔电动物镜转换器
物镜：100x，50x，20x，10x，5x等
XY载物台：100×100 mm（电动载物台），可选： 300×300 mm（电动载物台）
设备咨询联系人:
Ronnie Chen +86-21-13651969369 +86-21-61533166 ronniechen@nanofocus.com.cn