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地质学鉴定的新方法——微观、宏观同步鉴定
发布时间:2015-09-28        浏览次数:49        返回列表
     地质学中鉴定矿石等通常采用显微镜镜下判定,鉴定结果容易受到鉴定人员的专业水平和主观因素、切片方位的影响,光性特征有差异,再者颗粒细小的矿物还受到光学显微镜本身放大倍数的限制也很难准确鉴定。当前的鉴定方法已由传统的显微镜向现代分析仪器(X射线衍射仪、X射线荧光光谱仪等)综合研究方向发展。但当前的鉴定方法无法对样品进行宏观分析。 如何将传统鉴定方法和现代鉴定方法合二为一?

    巨纳集团销售的最新一代的X射线荧光分析显微镜XGT-7000开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析完美地结合,为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。X射线微区分析结合了X射线荧光与显微镜。不但可以分析单一的颗粒物或特征物,还能获得样品元素的面分布图。

       SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描;高能量分辨率,高计数率的测量,且无需液氮。

       双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换(大气或真空)。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量所有元素的高灵敏度。

       独特的硬件设计确保了XGT-7000操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 µm和1.2 mm间切换,以保证获得最佳测量条件,无论是微观到宏观。与x射线导管同轴的CCD相机,可以迅速、精确地定位感兴趣区域。

   X射线荧光分析显微镜XGT-7000的鉴定方法为地质科学研究者提供了更优的选择。